期刊名称：电子测试
主办单位：北京自动测试技术研究所
国内刊号：CN：11-3927/TN
国际刊号：ISSN：1000-8519
出刊日期：半月
期刊级别：JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)(2024)
曾用刊名：微电子测试
刊物简介：
《电子测试》杂志是经中国新闻出版总署批准，北京市工商局备案，国内外公开发行的期刊。本刊主管单位为北京市科学技术研究院、主办单位为北京自动测试技术研究所，国内统一刊号：11-3927/TN；国际标准刊号：1000-8519。
办刊尊旨：
介绍最新电子技术和测试测量技术为主，秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨，坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针，为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1987年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。同时，本刊也希望成为社会各界有识之士进行学术交流平台，共同发展，携手共进！
栏目设置：
设计与研发；理论与算法；虚拟仪器技术；微处理器与可编程控制器；网络与信息工程；测试工具与解决方案；科技论坛等
期刊信息：
主管单位：北京市科学技术研究院
主办单位：北京自动测试技术研究所
主编：陈晓筱
编辑部主任：胡洁
编辑：马旭、郜珊珊、朱泓、山文丰
ISSN：1000-8519
CN：11-3927/TN
地址：北京市100098－002信箱
邮政编码：100098
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